產(chǎn)品名稱(chēng):多功能涂鍍層測厚儀 德國菲希爾FISCHER
產(chǎn)品型號:SCOPE MMS PC2
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
SCOPE MMS PC2 多功能涂鍍層測厚儀 德國菲希爾FISCHER FISCHERSCOPE? MMS? PC2具有數據采集和測量數據處理能力,是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統。它既可以用來(lái)進(jìn)行手動(dòng)的樣品來(lái)料檢驗,也可以用于過(guò)程控制和對產(chǎn)品線(xiàn)進(jìn)行24小時(shí)地監控。有為不同樣品幾何形狀和測量范圍而設計的各式各樣的探頭可供選擇。
SCOPE MMS PC2 多功能涂鍍層測厚儀 德國菲希爾FISCHER
德國菲希爾FISCHER FISCHERSCOPE® MMS® PC2多功能涂鍍層測厚儀
使用一臺儀器就可同時(shí)完成鍍層厚度測量和材料性能測試。FISCHERSCOPE® MMS® PC2具有數據采集和測量數據處理能力,是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統。它既可以用來(lái)進(jìn)行手動(dòng)的樣品來(lái)料檢驗,也可以用于過(guò)程控制和對產(chǎn)品線(xiàn)進(jìn)行24小時(shí)地監控。有為不同樣品幾何形狀和測量范圍而設計的各式各樣的探頭可供選擇。
我們還設計了眾多不同的插件模塊實(shí)現儀器各種功能以滿(mǎn)足用戶(hù)的需要。模塊設計也使得儀器的升級可以隨時(shí)隨地地進(jìn)行。視實(shí)際需要,可以安裝類(lèi)似或不同的模塊。
配置舉例:
如在印制線(xiàn)路板生產(chǎn)中的鍍層測厚領(lǐng)域,可以在FISCHERSCOPE® MMS® PC2主機中安裝模塊BETASCOPE®, SIGMASCOPE®/PHASCOPE®, SR-SCOPE® 和PERMASCOPE®。這樣的儀器配置可以完成以下功能和應用:
在汽車(chē)配套工業(yè)領(lǐng)域的應用。包含了PERMASCOPE® 模塊, NICKELSCOPE® 模塊以及BETASCOPE® 模塊的FISCHERSCOPE® MMS® PC2 可用于以下鍍層厚度的測量需要:
我們提供一系列插入式測試模塊使其具有zui大的靈活性
友好的用戶(hù)界面
FISCHERSCOPE® MMS®PC2配有大尺寸、高分辨的彩色液晶觸摸屏。觸摸屏能快速而高效地幫助您完成測量數據的采集、存儲、評估及文件報告。儀器使用 基于Windows? CE操作系統的測量軟件,與 Word? 或Excel?良好兼容。操作簡(jiǎn)單易學(xué),并且對所有測量方法操作過(guò)程都保持*。 MMS? PC2提供實(shí)際上無(wú)限的測量數據存儲空間,以及在線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )的更新服務(wù)。.
共有三種測量結果表示方式,可即刻辨別重要信息 (Numeric Display Mode, Control Chart Display Mode, Specification Limit Display Mode)。
評估
去了用戶(hù)在對測量數據進(jìn)行統計評估時(shí)常常需要進(jìn)行的復雜而大量的數學(xué)計算。統計特性可以以列表和諸如正態(tài)分布圖及柱狀圖的圖形形式查看和打印。
PERMASCOPE®模塊
這一插入式模塊使用電磁感應和渦流的測試方法。
該模塊適合于測量涂鍍層厚度以及鐵素體含量:
back
NICKELSCOPE®模塊Module NICKELSCOPE®
這一插入式模塊采用霍耳效應方法測量鎳或鐵鍍層在非鐵基材上的厚度。
使用該模塊測量:
back
BETASCOPE®模塊
這一插入式模塊采用了Beta背散射方法。幾乎可以測量在任何基材上的任何材料鍍層厚度,只要鍍層材料和基材材料元素間存在至少5個(gè)原子序數的差別。
該模塊應用于:
SR-SCOPE®模塊
這一插入式模塊采用了微電阻方法,適合于測量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板,也是組成多層印刷線(xiàn)路板的起始材料上的銅鍍層,以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。
SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 1/TEMPERATURE模塊
該模塊采用相位電渦流法,適用于以下測量要求:
SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 2 模塊
此模塊需要配合SIGMASCOPE®-PHASCOPE® 1/TEMPERATURE模塊一起使用。
PHASCOPE® DUPLEX 模塊
此模塊集成了磁感應法和渦流相位法。,這樣就能測量雙層系統。
溫度測量模塊
此模塊連接TF100A探頭(探頭使用PT100傳感器)用以測量溫度,測量范圍0--﹢80℃(0--﹢178℉)。在某些測量模式中,溫度測量非常的有用。例如:在Beta射線(xiàn)反向散射法和電阻測試法中作為溫度補償。
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