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涂層測厚儀測量注意事項
日期：2013-04-16瀏覽：1807次
1）涂層測厚儀測量時(shí)不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。
2）基體金屬特性 對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
3）基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，進(jìn)行校準后，可以測量。
4）曲率：不應在試件的彎曲表面上測量。
5）涂層測厚儀讀數次數：通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此涂層測厚儀必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應如此。
6）磁場(chǎng)：周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的磁場(chǎng)會(huì )嚴重干擾磁性測厚工作
7）測頭取向：測頭的放置方式對測量有影響，在測量時(shí)應該與工件保持垂直
8）涂層測厚儀測量前，應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
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